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發(fā)布時間: 2024-08-12
產(chǎn)品型號: GDAT-C
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點(diǎn): 介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀:GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀的詳細(xì)資料:
一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀的技術(shù)指標(biāo)
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標(biāo)稱誤差
項(xiàng) 目 GDAT-A
頻率范圍 20kHz~10MHz;
固有誤差 ≤5%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍 10MHz~60MHz;
固有誤差 ≤6%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤8%±滿度值的2%。
2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.電容 測量:1~ 460
項(xiàng) 目 GDAT-A
直接測量范圍 1~460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準(zhǔn)確度 30~500pF;150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
4.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號源頻率覆蓋范圍
項(xiàng) 目 GDAT-A
頻率范圍 10kHz~50MHz
頻率分段
(虛擬) 10~99.9999kHz;100~999.999kHz;1~9.99999MHz;10~60MHz
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